| 及早發(fā)現(xiàn)和整改電能質(zhì)量問(wèn)題

最近，隨著現(xiàn)代能源供應(yīng)變化的進(jìn)行，配電電網(wǎng)中的電壓質(zhì)量（電能質(zhì)量）變得越來(lái)越受重視。 理想情況下，電網(wǎng)中的電壓具有正弦形狀，這是由電壓電平、頻率和曲線形狀決定的。

好的正弦波的例子

| 什么改變了

由于電網(wǎng)能源供應(yīng)的改變及相互作用，加上非線性負(fù)載和發(fā)電機(jī)的使用增加，電能質(zhì)量問(wèn)題日益突出。 因此，電流和電壓的正弦波形受到影響， 這會(huì)導(dǎo)致電能質(zhì)量的變化，并可能給其他能源消耗終端造成不必要的消極影響。 這反過(guò)來(lái)又會(huì)引起電氣裝置操作人員和最終用戶的額外運(yùn)維費(fèi)用支出。

電能質(zhì)量問(wèn)題的根源（恰如頭痛的保羅）

保羅頭痛——盡管他的主要身體指標(biāo)是正常的

心率沒(méi)問(wèn)題

血壓沒(méi)問(wèn)題

沒(méi)有失血

但還是很頭疼。 為什么？

因?yàn)椤邦^痛”的環(huán)境條件已經(jīng)改變：

☆ 非線性負(fù)載和能源供應(yīng)者增加

☆ 集中式電力供應(yīng)

☆ 分布式能源(例如光伏等 )

☆ 具有內(nèi)部獨(dú)立供電的微網(wǎng)系統(tǒng)(例如。 數(shù)據(jù)中心等。 )

| 摘要

人們可以通過(guò)預(yù)防性篩查來(lái)預(yù)防疾病，從而防止由此產(chǎn)生的癥狀，但誰(shuí)喜歡去看醫(yī)生，找出一些根本不對(duì)勁的地方？ ！

如何檢測(cè)電能質(zhì)量問(wèn)題？

長(zhǎng)久性安裝的在線電能質(zhì)量監(jiān)控裝置有助于早期發(fā)現(xiàn)電能質(zhì)量問(wèn)題，防止系統(tǒng)故障進(jìn)一步惡化。 計(jì)量認(rèn)證過(guò)的A級(jí)電能質(zhì)量監(jiān)控系統(tǒng)可把常見(jiàn)的干擾變量和電壓事件都可以長(zhǎng)久記錄和評(píng)估。 此外，還可以借助剩余電流測(cè)量裝置在早期階段檢測(cè)絕緣故障。

| 由于電能質(zhì)量問(wèn)題引起的典型危害：

☆ 電機(jī)和變壓器過(guò)熱

☆ 剩余電流裝置和熔斷器的頻繁斷開(kāi)

☆ 中性導(dǎo)體過(guò)載（火災(zāi)危險(xiǎn)）

☆ 功率因數(shù)校正用電容器過(guò)載

☆ 熒光燈和顯示器閃爍

☆ 電子鎮(zhèn)流器故障

☆ 電子設(shè)備和控制器的功能損傷(例如電梯控制、電話系統(tǒng)、生產(chǎn)系統(tǒng)、測(cè)量設(shè)備等。 )

☆ 服務(wù)器宕機(jī)(例如在數(shù)據(jù)中心等)

☆ 脈沖控制信號(hào)傳輸?shù)恼系K(例如輸配電網(wǎng)絡(luò)中 )

☆ 干擾以及來(lái)自無(wú)線電網(wǎng)絡(luò)煙霧報(bào)警器的假警報(bào)

☆ 無(wú)功功率增加，從而增加能源成本（能源效率降低）

☆ 減少器件的預(yù)期壽命(例如LED照明故障、服務(wù)器故障、電機(jī)故障、變壓器故障等 )

☆ 干擾噪聲增大(針對(duì)人耳0-16kHz的噪聲)

☆ 集膚效應(yīng)（由于高頻交流成分增加后電流只流過(guò)導(dǎo)體外層）

☆ 線路和電纜損壞

因此，電能質(zhì)量差會(huì)給電力消費(fèi)者帶來(lái)負(fù)擔(dān)和損害，在壞的情況下，還會(huì)危及人員和財(cái)產(chǎn)安全。 2007年的一項(xiàng)研究已經(jīng)將電能質(zhì)量問(wèn)題造成的經(jīng)濟(jì)損失定為每年1570億歐元，這是一個(gè)不斷增長(zhǎng)的趨勢(shì)。 因此，電能質(zhì)量不是一個(gè)新的話題，近年來(lái)，由于越來(lái)越多的新技術(shù)增加給全球電力系統(tǒng)帶來(lái)不確定性，電力質(zhì)量越來(lái)越受到關(guān)注。 電氣現(xiàn)象的考慮和限值是從IEC61000-x-x的電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)化中得出的。

意想不到的系統(tǒng)故障-如何應(yīng)對(duì)？

 | 結(jié)論

一旦故障或故障發(fā)生在電網(wǎng)或設(shè)備中，無(wú)論是連續(xù)的還是偶發(fā)的，在通常故障排除條件下無(wú)法解釋的問(wèn)題，其原因往往是電能質(zhì)量問(wèn)題引起的。